Equipos
Medidas de dicroísmo circular nm desde 173 nm hasta 900 nm. Permite medidas con control de temperatura. Permite el uso de cubetas de 0,1; 1 y 2 cm de paso óptico. Acoplado a un sistema de stop-flow con unidad de mezclado.
Horno con cámara de oxígeno, que permite regulación de la presión de 1 a 200 bar. Temperaturas 100 a 1000°C.
Medidas resueltas en el tiempo de especies transientes. Permite excitación Láser a 208, 354 y 532 nm. Detección desde 0,1 microsegundos, rango espectral 200-900 nm
– Tres (3) láseres de estado sólido del tipo Nd:YAG, con capacidad de generación de segundos (λ = 532 nm), terceros (λ = 355 nm) y cuartos (λ = 266 nm) armónicos a partir de su radiación de salida fundamental (λ = 1064 nm).
– Dos (2) sistemas de láseres de colorantes sintonizables (bombeados por los segundos armónicos de sendos láseres de Nd:YAG), cuyas salidas fundamentales permiten barrer el intervalo de longitudes de onda de 532 a 750 nm; mediante el uso de cristales dobladores de frecuencias del tipo BBO, dichas salidas pueden ser convertidas al intervalo de 266-375 nm.
Microscopio de barrido túnel (STM) y de fuerza atómica (AFM) Molecular Imaging (actualmente Agilent Technologies) , modelo PicoScan. Scanners de barrido de diferentes dimensiones.
Instrumento para mediciones con elevada sensibilidad, con diseño optimizado para alta resolución espacial y espectral. Amplio intervalo de longitudes de onda de láseres entre cercano IR y visible (488, 514,5, 633 y 785 nm). Detector de arreglo de diodos CCD y monocromadores (600 y 1800 lines/mm).
Microscopio Nanonics Imaging Ltd. Modelo Multiview 2000TM ((NSOM/SPM) Scan Head Assembly) con dispositivo de escaneo. Microscopio óptico confocal (Olympus) con configuración dual e invertida. Objetivos de alta magnificación (50X y 100X) y variada apertura numérica (NA = 0.25-0.9).
Microscopio óptico de barrido con punta de prueba ultra sensible con diversos modos de operación para obtención de imágenes: AFM/SPM/SNOM. Equipo integrado para adquisición simultánea de topografía e imagen óptica de campo cercano AFM/SPM. Sistema de acoplamiento para mediciones espectroscopía e imágenes de campo lejano/de campo cercano SNOM/Raman.
Reactor de fabricación propia, de vidrio Pyrex termostatizado con generación de radicales OH por PLP a λ= 355 nm proveniente del tercer armónico de un láser Nd:YAG Quantel Brillant B y detección por fluorescencia inducida por láser a λ= 282 nm proveniente de un Láser de colorantes Lumonics bombeado Nd:YAG Spectraphysics. El montaje cuenta con 4 controladores digitales de flujo MKS, , óptica adecuada, medidores de presión MKS, preamplificador, tubo fotomultiplicador Hamamatsu, generador de retrazos BNC, osciloscopio digital Lecroy y una PC con software adecuado (desarrollado en el laboratorio) para la adquisición de datos en tiempo real.
Un haz de luz linealmente polarizada incide sobre una superficie y se refleja. Este haz al llegar al detector, se divide en sus componentes paralelas y perpendiculares mediante un dispositivo electrónico que separa ambas componentes. Las intensidades de las direcciones normal y paralela (con respecto al plano de incidencia) se miden continuamente. Cuando las moléculas se adsorben sobre esta superficie, la relación entre estas intensidades cambia, lo cual permite calcular la cantidad adsorbida utilizando un modelo óptico adecuado para la superficie. Este cambio puede medirse para macromoléculas, ya que ellas modifican el índice de refracción o el espesor de la película adsorbida. En este sentido, esta técnica ha sido ampliamente utilizada para estudiar la adsorción de péptidos, proteínas, cadenas cortas de ADN, polímeros y surfactantes sobre superficies planas.
Es un reómetro de cojinete neumático diseñado para productos de desarrollo industrial y de investigación básica. El rango de su torque y la resolución angular son ideales para un amplio rango de muestras. Es posible cualquier tipo de combinación de ensayos reológicos, tanto en modo rotativo como oscilatorio. Además, la modularidad del sistema permite la integración de dispositivos de temperatura y accesorios específicos de las aplicaciones.
